名片曝光使用說明

步驟1:創(chuàng)建名片

微信掃描名片二維碼,進入虎易名片小程序,使用微信授權登錄并創(chuàng)建您的名片。

步驟2:投放名片

創(chuàng)建名片成功后,將投放名片至該產(chǎn)品“同類優(yōu)質(zhì)商家”欄目下,即開啟名片曝光服務,服務費用為:1虎幣/天。(虎幣充值比率:1虎幣=1.00人民幣)

關于曝光服務

名片曝光只限于使用免費模板的企業(yè)產(chǎn)品詳細頁下,因此當企業(yè)使用收費模板時,曝光服務將自動失效,并停止扣除服務費。

<

返回首頁

產(chǎn)品分類 更多>>

加工定制
類型
超聲波測厚儀
品牌
SANKO山高
型號
R-10000ND
測量范圍
10(mm)
顯示方式
數(shù)字顯示
電源電壓
1.5V(V)
外形尺寸
72*30*156(mm)
跨境貨源

好品牌,日本SANKO山高測厚儀,R-10000ND,YUQIF

好品牌,日本SANKO山高測厚儀,R-10000ND,YUQIF

好品牌,日本SANKO山高測厚儀,R-10000ND,YUQIF

測厚儀(thickness gauge )是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度(如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料)。

這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計;有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計;有利用渦流原理的電渦流厚度計;還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。

原理分類

測厚儀按照測量的方式不同,可大致分為:

1、接觸式測厚儀

接觸面積大小劃分:

點接觸式測厚儀

面接觸時測厚儀

2、非接觸式測厚儀

非接觸式測厚儀根據(jù)其測試原理不同,又可分為以下幾種:

激光測厚儀

超聲波測厚儀

涂層測厚儀

X射線測厚儀

白光干涉測厚儀

電解式測厚儀

管厚規(guī)

主要類型

激光測厚儀:是利用激光的反射原理,根據(jù)光切法測量和觀察機械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)測量儀器。它可直接輸出數(shù)字信號與工業(yè)計算機相連接,并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設備。

X射線測厚儀:利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)計算機為核心,采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統(tǒng),達到要求的軋制厚度。主要應用行業(yè):有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工.

紙張測厚儀:適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。

薄膜測厚儀:用于測定薄膜、薄片等材料的厚度,測量范圍寬、測量精度高,具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動斷電等特點。

超聲波測厚儀:超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的,當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時,脈沖被反射回探頭,通過測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。

適合測量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導體的厚度。

X射線測厚儀:適用生產(chǎn)鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產(chǎn)品的企業(yè),可以與軋機配套,應用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中,x射線測厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機生產(chǎn)過程中對板材厚度進行自動控制。

涂層測厚儀F型探頭可直接測量導磁材料(如鋼鐵、鎳)表面上的非導磁覆蓋層厚度(如:油漆、塑料、搪瓷、銅、鋁、鋅、鉻、等)??蓱糜?a target="_blank">電鍍層、油漆層、搪瓷層、鋁瓦、銅瓦、巴氏合金瓦、磷化層、紙張的厚度測量,也可用于船體油漆及水下結構件的附著物的厚度測量。

涂層測厚儀:采用電磁感應法測量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂層厚度。

涂層測厚儀具有兩種測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE);

具有兩種工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(APPL);

設有五個統(tǒng)計量:平均值(MEAN)、較大值(MAX)、小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、標準偏差(S.DEV)

涂鍍層測厚儀根據(jù)測量原理一般有以下五種類型:

1.磁性測厚法:適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為:鋼,鐵,銀,鎳。此種方法測量精度高。

2.渦流測厚法:適用導電金屬上的非導電層厚度測量。此種較磁性測厚法精度低。

3.超聲波測厚法:適用多層涂鍍層厚度的測量或者是以上兩種方法都無法測量的場合。但一般價格昂貴,測量精度也不高。

4.電解測厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測,需要破壞涂鍍層,一般精度也不高。測量起來比較其他幾種麻煩。

5.放射測厚法:此處儀器價格非常昂貴(一般在10萬RMB以上),適用于一些特殊場合。

國內(nèi)目前使用為普遍的是第1/2兩種方法。

激光測厚儀:

板材(鋼坯)激光厚度檢測系統(tǒng)具有無輻射、成本低、便于維護等特點,激光測厚儀是通過采用自主激光檢測技術及的防護措施研制而成的,完全滿足熱軋板坯厚度檢測的需求。

激光測厚儀是基于三角測距原理,使用集成式的三角測距傳感器測量出從安裝支架到物體表面的距離,進而根據(jù)支架的固定距離計算得出物體的厚度。

激光束在被測物體表面上形成一個很小的光斑,成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏面上,產(chǎn)生探測其敏感面上光斑位置的電信號。當被測物體移動時,其表面上光斑相對成像物鏡的位置發(fā)生改變,相應地其像點在光敏器件上的位置也要發(fā)生變化,進而可計算出被測物體的實際移動距離。

紙張薄膜測厚儀:

采用機械接觸式測量方式,嚴格符合標準要求,有效了測試的規(guī)范性和準確性。適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測量。

非接觸式紙張測厚儀:

英國真尚有公司研發(fā)的測厚儀使用了新的非接觸式測量方法,可以實現(xiàn)對紙張的非接觸式測量,避免對紙張造成形變引起誤差。測量精度達到微米級,是目前精度較高的測厚儀,并且可以在線測量。實現(xiàn)生產(chǎn)自動化的閉環(huán)控制。

非接觸式測厚儀的測量原理:使用兩個紙張厚度傳感器安裝在被測物(紙張)上下方,將傳感器固定在穩(wěn)定的支架上,確保兩個傳感器的激光能對在同一點上。隨著被測物的移動傳感器就開始對其表面進行采樣,分別測量出目標上下表面分別與上下成對的激光位移傳感器距離,測量值通過串口傳輸?shù)接嬎銠C,再通過我們在計算機上的測厚軟件進行處理,得到目標被測物體的厚度值。非接觸式紙張測厚儀同樣可以測量其他薄膜類、片材類物體的厚度。

磁性測厚儀:

磁性測厚儀一體式儀器結構,可以單手操作。它采用電磁感應原理,適用于測量各種磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度,可以測量鋼鐵上的各種電鍍(鍍鎳除外)、涂層、琺瑯、塑料等覆蓋層厚度,還可用于測量各種金屬箔(如銅箔、鋁箔、金箔等)和非金屬薄膜(如紙張、塑料等)的厚度。本儀器可用于生產(chǎn)檢驗、驗收檢驗及質(zhì)量監(jiān)督檢驗。符合標準。

渦流測厚儀:

渦流測厚儀是一種小型儀器,采用渦電流測量原理,可以方便無損地測量有色金屬基體上的油漆、塑料、橡膠等涂層,或者是鋁基體上的陽極氧化膜厚度等。該儀器廣泛應用于機械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

渦流測量原理是高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場,測頭靠近導體時,就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。與磁感應測厚儀一樣,渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um,允許誤差1%,量程10mm的高水平。采用電渦流原理的測厚儀,原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量,如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性,通過校準同樣也可測量,但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導電體,但這類任務還是采用磁性原理測量較為合適。

單用測厚儀:

采用磁性測厚方法,可無損傷地檢測磁性金屬基鐵(如:鐵、鋼、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如:鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)。單用測厚儀廣泛地應用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領域。是材料保護必備的儀器。符合GB/T 4956-1985 磁性金屬基體上非磁性覆層厚度的測量。便攜設計,手掌大小,采用高速的DSP芯片,具有快速的測量能力;天津市精科材料試驗機廠是生產(chǎn)油漆、涂料、油墨設備材料試驗機及涂料行業(yè)試驗室專用設備的較大型企業(yè)。人性化設計,簡單操作。在雙用探頭時自動識別鐵基和非鐵基材質(zhì),無需手動轉(zhuǎn)換,兩種校準方式,零點校準和二點校準,寬角度LCD液晶顯示,公制和英制單位轉(zhuǎn)換,具有電源欠電壓提示,操作過程有蜂鳴聲提示,具有自動關機功能。

??

膜厚計、測定器

膜厚計-電磁式,渦流式

SWT-9000,SWT-9100,SWT-9200,SWT-9300,SAMAC-FN,SAMAC-Pro

膜厚計-電磁式

CTR-2000 III,TL-50,SM-Pen,SWT-9000F,SAMAC-F,SP-3300D,Pro-1,Pro-2,SL-120C,SL-200E

膜厚計-渦流式

SWT-9000N

超聲波膜厚計

ULT-5000,UDM-550V,SF-1150,

探頭-電磁感應式

Fe-2.5,F(xiàn)e-2.5L,F(xiàn)e-2.5LwA,F(xiàn)e-10,F(xiàn)e-0.6,F(xiàn)e-20,F(xiàn)e-0.6Pen,SL-5P

探頭-渦流式

NFe-2.0,NFe-2.0L,NFe-0.6,NFe-8,F(xiàn)N-325

膜厚計

318/318S,

SANKO山高粒度計232,

表面鹽分計

SNA-3000,

光澤計

SG-6,SG-268

環(huán)境監(jiān)測計SE-250,SE-250D

代理品牌

光源部:EYE巖崎、SEN日森、USHIO牛尾、REVOX萊寶克斯、CCS希希愛視、SERIC索萊克、TOPCON拓普康、NDK電色、ORIHARA折原、LUCEO魯機歐、FUNATECH船越龍、SAKAZUME坂詰電子、HIKARIYA光屋、KKIMAC、DNP大日本科研

計測部:NEWKON新光、SANKO三高、SAKAGUCHI坂口電熱、OKANO岡野、ONOSOKKI小野、TOKYO DENSHOKU東京電色、NDK日本電色、MITUTOYO三豐、PEACOCK孔雀、KYOWA共和

科儀部:EYELA東京理化、DRY-CABI德瑞卡比、T

產(chǎn)品推薦
“好品牌,日本SANKO山高測厚儀,R-10000ND,YUQIF”信息由發(fā)布人自行提供,其真實性、合法性由發(fā)布人負責。交易匯款需謹慎,請注意調(diào)查核實。