名片曝光使用說明

步驟1:創(chuàng)建名片

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靜態(tài)參數(shù)測試

高壓反偏測試

測試參數(shù)IR

常溫下: 10nA~2mA

高溫3000C下: luA-2mA

測試條件:

反向電壓:直流50-5000V、直流方波

脈沖竟度: 50uS-1S

試驗電壓:

50~5000V±3%±10V;

器件需電流測目范國:

常溫下: 10nA-2mA

高溫3000c:下: luA~2mA

測試時間:計算機設定

測試工位: 60只(可根據害戶要求定制)

 測誠方法:

器件在特定溫度下存儲一定時間后,在設定電壓下對每只器件同時持續(xù)加反圧進行測試, 每隔1-2秒刷新一遍輸出的測試結果,監(jiān)控各器件反壓下漏電流參數(shù), 并保存測試數(shù)據,

 

測試參數(shù)BvR

50V-5000V

測試條件:

反向電流: 100nA-2mA、直流方波

脈沖竟度: 50uS-lS

測試參數(shù)BvR

0.01-50V

測試條件:

正向電流: 0.1mA~60A、直流方波

脈沖寬度50uS-1S

測試工位

60只(可根據客戶要求定制)

測試方法

器件在特定溫度下存儲一定時間后,在設定電壓按規(guī)定條件施加下對被測器件的漏電流、 反壓及正向壓降依次進行測試,每個參數(shù)之間間隔為80ms;兩工位之間的測試時間間隔為500mS,將被測元件分為3組,各組同時進行,測試的各參數(shù)結果可自動存儲于工控機。

技術指標:

 

一、 概述

     SiC高低溫試驗臺VR可靠性試驗臺,IR可靠性試驗臺,BVR可靠性試驗臺,VF試驗臺,高溫烘箱、低溫烘箱、測試夾具組成。主要測試高溫和低溫下二極管反向電壓下的漏電流、階梯電壓下的漏電流、電流下的電壓, 峰值電流下的壓降。

二、 使用要求

A. 進線電壓:AC220V±10%(含高溫烘箱和低溫烘箱)

B. 電壓頻率:50Hz±1Hz

C. 設備總功率:三相20KW

D. 高溫烘箱總功率:4KW

E. 低溫烘箱總功率:4KW

F. 環(huán)境溫度:10~50℃

G. 工作濕度:溫度不高于+30℃時,相對濕度5%-80%。

溫度+30℃到+50℃時相對濕度5%-45%,無冷凝。

H. 大氣壓力: 86Kpa~106Kpa

I. 海拔高度:不超過3000米。

 技術指標   

3.1測試臺技術性能指標

二極管規(guī)定反向電壓下的漏電流測試

試驗電壓:直流電壓50V~5000V ±3%±10V

單工位測試電流:10nA-2mA

測試工位:60個

控制方式:計算機自動控制

測試二極管規(guī)定反向電流下對應的電壓

試驗電流:10nA-2mA±3%±0.1uA

測試電壓:直流電壓50V~5000V ±3%±10V

單工位測試電流:10nA-2mA

測試工位:60個

測試參數(shù)VF:0.01~50V±3%±0.1V;

測試條件:正向電流:0.1mA60A;直流方波,脈沖寬度50uS-1S。

測試工位:60只。

測試方法:器件在特定溫度下存儲一定時間后,在設定電壓按規(guī)定條件施加下對被測器件的漏電流、反壓及正向壓降依次進行測試,每個參數(shù)之間間隔為80ms;兩工位之間的測試時間間隔為500mS,將被測元件分為3組,各組同時進行。測試的各參數(shù)結果可自動存儲于工控機。

控制方式:計算機自動控制

3.2控溫箱性能指標

試驗溫度范圍:-55 oC到400oC

低溫箱溫度控制精度范圍-55~+150℃

溫度波動度≤±2℃(空載時)

溫度均勻度≤±3℃(空載時)

高溫箱溫度控制精度范圍:

溫度范圍RT+10℃~400℃

溫度波動度±2℃

溫度均勻度≤±3℃(空載時),

3.3夾具性能指標

測試工位:60工位

工位轉換:自動切換

耐溫范圍:-55oC~400oC

計算機功能介紹

計算機控制系統(tǒng)是該設備的中心控制單元。計算機采用的是研華工業(yè)控制機,機箱為610H型,抗電磁干擾能力強,排風量大等特點。該套系統(tǒng)包括計算機、NI6221數(shù)據采集卡、數(shù)字電路隔離、高速脈沖隔離、模擬隔離、電壓采樣、電流采樣。

NI6221數(shù)據采集卡主要功能控制工位選擇和選擇測試功能。

數(shù)字隔離:控制功能選擇和工位轉換。

高速脈沖隔離:控制測試信號和保護信號輸出。

模擬隔離:采集測試時被試元件兩端電壓和漏電流。

NI PCI6221端口功能


 

西安精華偉業(yè)電氣科技有限公司(www.xianjhwy.cn)專業(yè)從事IGBT動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)、IGBT靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)、IGBT功率循環(huán)試驗臺、浪涌電流試驗臺、FRD測試臺、SiC雪崩能量測試儀、Tq Qr and dv dt檢測設備、晶閘管阻斷特性測試臺、被動熱循環(huán)試驗臺、高溫反偏試驗臺等大功率檢測設備的研發(fā)設計、制造、經營、技術咨詢與服務。

 


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