名片曝光使用說明

步驟1：創(chuàng)建名片

微信掃描名片二維碼，進入虎易名片小程序，使用微信授權(quán)登錄并創(chuàng)建您的名片。

步驟2：投放名片

創(chuàng)建名片成功后，將投放名片至該產(chǎn)品“同類優(yōu)質(zhì)商家”欄目下,即開啟名片曝光服務(wù)，服務(wù)費用為：1虎幣/天。(虎幣充值比率：1虎幣=1.00人民幣)

關(guān)于曝光服務(wù)

名片曝光只限于使用免費模板的企業(yè)產(chǎn)品詳細頁下，因此當企業(yè)使用收費模板時，曝光服務(wù)將自動失效，并停止扣除服務(wù)費。

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產(chǎn)品介紹: PV-2000系列無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)為太陽能/光伏硅片及其他材料提供快速、多通道的厚度、（總厚度變化）TTV、彎曲度及無接觸電阻率測量功能。并提供基于TCP/IP的數(shù)據(jù)傳輸接口及基于Windows的控制軟件，用以進行在線及離線數(shù)據(jù)管理功能。 產(chǎn)品特點： ■ 使用MTI Instruments的推/拉電容探針技術(shù) ■ 每套系統(tǒng)提供多三個測量通道 ■ 可進行較大、小、平均厚度測量和TTV測量 ■ 可進行翹曲度測量（需要3探頭） ■ 用激光傳感器進行線鋸方向和深度監(jiān)視（可選） ■ 集成數(shù)據(jù)采集和電氣控制系統(tǒng) ■ 為工廠測量提供快速以太網(wǎng)通訊接口，速率為每秒5片 ■ 可增加的直線厚度掃描數(shù)量 ■ 與現(xiàn)有的硅片處理設(shè)備有數(shù)字I/O接口 ■ 基于Windows的控制軟件提供離線和在線的數(shù)據(jù)監(jiān)控 ■ 提供標準及客戶定制的探頭 ■ 提供基于Windows的動態(tài)鏈接庫用于與控制電腦集成 ■ 無接觸，用渦電流法測量硅片電阻率 技術(shù)參數(shù)： ■ 晶圓硅片測試尺寸：50mm- 300mm. ■ 厚度測試范圍：1.7mm，可擴展到2.5mm. ■ 厚度測試精度： /-0.25um ■ 厚度重復性精度：0.050um ■ 測量點直徑：8mm ■ TTV 測試精度: /-0.05um ■ TTV重復性精度: 0.050um ■ 彎曲度測試范圍： /-500um [ /-850um] ■ 彎曲度測試精度： /-2.0um ■ 彎曲度重復性精度： 0.750um ■ 電阻率測量范圍：0.1-50ohm-cm ■ 電阻率測量精度：2% ■ 電阻率測量重復精度：1% ■ 晶圓硅片類型：單晶或多晶硅 ■ 可用在：切片后、磨片前、后，蝕刻，拋光以及出廠、入廠質(zhì)量檢測等 ■ 平面/缺口：所有的半導體標準平面或缺口 ■ 連續(xù)5點測量 典型客戶: 美國，歐洲，亞洲及國內(nèi)太陽能及半導體客戶。
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“無接觸硅片自動測試系統(tǒng)”信息由發(fā)布人自行提供，其真實性、合法性由發(fā)布人負責。交易匯款需謹慎，請注意調(diào)查核實。