白光干涉儀供應(yīng)商，白光干涉儀批發(fā)，白光干涉儀價(jià)格，白光干涉儀圖片AE-100M 產(chǎn)品用途 結(jié)合光學(xué)顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡，結(jié)合顯微物鏡與干涉儀、不需要復(fù)雜光調(diào)整程序，兼顧體積小、納米分辨率、易學(xué)易用等優(yōu)點(diǎn)，可提供垂直掃描高度達(dá)400um的微三維測(cè)量，適合各種材料與微組件表面特征和微尺寸檢測(cè)。應(yīng)用領(lǐng)域包含 產(chǎn)品特點(diǎn) ● 納米深度3D檢測(cè) ● 高速/無(wú)接觸量 ● 表面形狀/粗糙度分析 ● 非透明/透明材質(zhì)皆適用 ● 非電子束/非鐳射的安全量測(cè) ● 低維護(hù)成本 級(jí)的3D圖形處理與分析軟體（Post Topo） ● 提供多功能又具親和接口的3D圖形處理與分析 ● 提供自動(dòng)表面平整化處理功能 ● 提供高階標(biāo)準(zhǔn)片的軟件自校功能 ● 深度/高度分析功能提供線(xiàn)型分析與區(qū)域分析等兩種方式 ● 線(xiàn)型分析方式提供直接追溯ISO定義的表面粗糙度（Rorghness）與起伏度 ● （waviness）的測(cè)量分析?？商峁┒噙_(dá)17種的ISO量測(cè)參數(shù)與4種額外量測(cè)數(shù)據(jù)（Wafer） ● 區(qū)域分析方式提供圖形分析與統(tǒng)計(jì)分析。 ● 具有平滑化、銳化與數(shù)字過(guò)濾波等多種二維快速利葉轉(zhuǎn)換（FFT）處理功能。 ● 量測(cè)分析結(jié)果以BMP等多種圖形檔案格式輸出或是Excel文本文件格式輸出 高速精密的干涉解體軟體(ImaScan) ● 系統(tǒng)硬件搭配ImgScan前處理軟件自動(dòng)解析白光干涉條紋 ● 垂直高度可達(dá)0.1nm ● 高度的分析算法則，讓你不在苦候測(cè)量結(jié)果 ● 垂直掃描范圍的設(shè)定輕松又容易 ● 有10X、20X、50X倍率的物鏡可供選擇 ● 平臺(tái)XYZ位置數(shù)顯示，使檢標(biāo)的尋找快速又便利 ● 具有手動(dòng)/自動(dòng)光強(qiáng)度調(diào)整功能以取得的干涉條紋對(duì)比。 ● 具有高精度的PVSI與高速VSI掃描測(cè)量模式供選擇。 ● 具有專(zhuān)利的解析算法則可處理半透明物體的3D形貌。 ● 具有自動(dòng)布補(bǔ)點(diǎn)功能 ● 可自行設(shè)定掃描方向 技術(shù)規(guī)格參數(shù) 型號(hào) AE-100M 移動(dòng)臺(tái)(mm) 平臺(tái)尺寸100*100 ，行程13*13 物鏡放大倍率 10X 20X 50X 觀(guān)察與量測(cè)范圍 0.43*0.32 0.21*0.16 0.088*0.066