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該技術(shù)的主要特征為:利用低能X光激發(fā)待測元素,對Si、S、Al、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果,并且測試時間短,大大提高了檢測效率和工作效率:采用UHRD探測器,具有良好的能量線性和能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比;采用自動穩(wěn)譜裝置,了儀器工作的一致性:利用解譜技術(shù)使譜峰分解,使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有好的分析精度;采用多參數(shù)的線性回歸方法,使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低。