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瑞典XCounter雙能光子計數(shù)X射線探測器XC-FLITE X系列
http://www.lind.cn/cn/product/product-69-72.html
小平板探測器，直接成像探測器，MINI平板，CdTe-CMOS傳感器，光子計數(shù)探測器，雙能光子計數(shù)X射線探測器，X射線探測器，CMOS傳感器，線陣探測器，線陣探測器，平板探測器，微型平板探測器
產(chǎn)品描述
XC-FLITE X1、X2、X3是直接數(shù)字轉(zhuǎn)換、自掃描、雙能采集、光子計數(shù)X射線探測器，用于數(shù)字X射線成像系統(tǒng)，基于新型強大的CdTe-CMOS傳感器平臺研發(fā)而成，XC-FLITE X系列適用于潛在寬泛的能量范圍。
XC-FLITE X系列可以基于幀率成像，也可以采用時間延遲總和（TDS）模式，掃描速度較高90mm/s。
引進反符合技術的雙能采集功能，是XC-FLITE X系列產(chǎn)品的先進之處，在雙能采集過程中，通過兩個獨立的閾值將探測到的光子能量加以比較，并分別讀出，雙能設置可用作材料分析，這為新的醫(yī)學和工業(yè)X射線成像技術開啟了大門。反符合技術的運用，確保將每一個光子信號分布在適當?shù)南袼攸c上，從而獲得更高的能量分辨率。
XC-FLITE X系列的產(chǎn)品內(nèi)部具有一個精心設計的掃描驅(qū)動元件，可自動控制，整個掃描過程是完全透明可見的。
集成
XC-FLITE X系列，通過GigE接口將XC-FLITE X系列連接到計算機上，自帶靈活的軟件開發(fā)包，可控制所有XC-FLITE X的功能；可用在Windows XP、Vista、 Windows7和Windows8系統(tǒng)平臺
應用
*小范圍輻照
*小動物成像
*實驗室樣品和標本成像
*工業(yè)檢測（NDT）
特點
