電鍍層測(cè)厚儀是基于xrf原理的熒光無損能譜分析方法，屬于物理分析方法。電鍍層測(cè)厚儀的原理樣品在受到X射線照射時(shí)，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì)發(fā)射出各自的特征X射線，不同的元素有不同的特征X射線；探測(cè)器探測(cè)到這些特征X射線后，將其光信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)槟M電信號(hào)；經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬電信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)并送入計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理；電鍍層測(cè)厚儀計(jì)算機(jī)的特殊應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息，通過數(shù)據(jù)處理測(cè)定出被測(cè)鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。 電鍍層鍍層測(cè)厚儀它能檢測(cè)出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預(yù)處理；分析時(shí)間短，僅為數(shù)十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度；分析測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍寬，可從0.005μm到60μm。 電鍍鍍層測(cè)厚儀具有快速、準(zhǔn)確、簡(jiǎn)便、實(shí)用等優(yōu)點(diǎn)，廣泛用于鍍層厚度的測(cè)量、電鍍液濃度的測(cè)量。 技術(shù)參數(shù)： 元素分析范圍：從硫（S）到鈾（U） 同時(shí)分析幾十種以上元素，五層鍍層 分析檢測(cè)限可達(dá)2ppm,鍍層分析可以較低0.005um厚度樣品 分析含量一般為1ppm到99.9% 鍍層厚度一般在50um以內(nèi)（每種材料有所不同） 任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型 相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型 多變量非線性回收程序 多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1% 溫度適應(yīng)范圍：15度到30度 儀器配置： 高壓電源：0-50kv 光管管流：0uA-1000uA 濾光片：可選擇多種定制切換 探測(cè)器：Si-Pin/（SDD可選） 多道分析器 樣品腔尺寸：310*280*60 (mm) 外部尺寸：380*372*362 重量： 29kg 應(yīng)用: 塑料制品工業(yè)鍍層、電子材料鍍層（接插件、半導(dǎo)體、線路板、電容器等）、鋼鐵材料鍍層（鐵、鑄鐵、不銹鋼、低合金、表面處理鋼板等）、有色金屬材料鍍層（銅合金、鋁合金、鉛合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、貴金屬等）、 其它各種鍍層厚度的測(cè)量及成分分析。