產(chǎn)品分類(lèi) 更多>>
本產(chǎn)品設(shè)計(jì)、制造、檢驗(yàn)參照以下標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 191包裝儲(chǔ)運(yùn)圖示標(biāo)志
GB/T 2421.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)概述和指南
GB/T 2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)A低溫
GB/T 2423.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分 試驗(yàn)方法試驗(yàn)B高溫
GB/T2423.3 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB/T2423.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ea 和導(dǎo)則：沖擊
GB/T 2423.6電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Eb 和導(dǎo)則：碰撞
GB/T 2423.8電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Ed:自由跌落
GB/T 2423.10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn) Fc 和導(dǎo)則：振動(dòng)（正弦）
GB 5080.7-1986設(shè)備可靠性試驗(yàn)恒定失效率假設(shè)條件下的失效率與平均無(wú)故障時(shí)間的驗(yàn)證試驗(yàn)方案
GB 9254-2008信息技術(shù)設(shè)備的無(wú)線電騷擾限值和測(cè)量方法
GB/T 17618-2015信息技術(shù)設(shè)備抗擾度限值和測(cè)量方法
GB/T 18239-2000集成電路（IC）卡讀寫(xiě)機(jī)通用規(guī)范
一、 技術(shù)參數(shù)
1. 電源：DC12V 3A；靜態(tài)功率<1.5w
2. 顯示：4—6位數(shù)碼顯示；
3. 工作環(huán)境：溫度：-20℃～70℃ ；
4. 讀卡類(lèi)型：IC系列為MIFARE ONE卡；
5. 讀卡頻率：IC系列為13.56MHZ;
6. 讀寫(xiě)時(shí)間：≤500ms；
7. 讀寫(xiě)距離：3-5cm(54mm*85mm標(biāo)準(zhǔn)卡片)；
8. 日限額：65535元；次限額：65535元；
9. 卡底金：255元；
10. 存儲(chǔ)容量：12000條記錄；
11. 數(shù)據(jù)保存：FLASH保存數(shù)據(jù)，掉電不丟失。
12. 黑名單存儲(chǔ)數(shù)量：65535條；
13. 通訊方式：無(wú)限（433）
14. 體積（掛式）：145MM*102MM*44MM
歡迎咨詢，量?jī)r(jià)從優(yōu)
