高低溫試驗箱 一、溫度范圍 A型： 0℃～130℃ B型： -20℃～130℃ C型： -40℃～130℃ D型： -60℃～130℃ E型： -70℃～130℃ 溫度均勻度： ≤ 2℃ （空載時） 溫度波動度： ±0.5℃ （空載時） 溫度偏差： ≤±2℃ 降溫速率： 1.0℃/min （空載時） 時間設(shè)定范圍： 0～999.9 小時分鐘秒 二、參照標(biāo)準(zhǔn) 本產(chǎn)品滿足GB2423.1－2001試驗A《高溫試驗方法》; GB2423.2－2001試驗B《低溫試驗方法》等標(biāo)準(zhǔn)，以及其它相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的要求。嚴(yán)格按GB 10592—89《高低溫試驗箱技術(shù)條件》進(jìn)行設(shè)計制造，可進(jìn)行各種高低溫環(huán)境試驗 。 三、結(jié)構(gòu)設(shè)計 高低溫試驗設(shè)備外殼采用A3鋼板表面進(jìn)行噴塑處理，圓弧型設(shè)計，線條流暢自然。內(nèi)膽為SUS304不銹鋼板，能恒定控制試驗溫差±2℃。室內(nèi)的樣品架及其它附件配件均為SUS304不銹鋼材料制作。設(shè)備對的保溫材質(zhì):高密度玻璃纖維棉，箱門設(shè)置一個透明窗口，用以觀測室內(nèi)試樣的變化。觀察窗采用多層中空鋼化玻璃,內(nèi)側(cè)膠合片式導(dǎo)電膜. 攪拌系統(tǒng)采用長軸風(fēng)扇電機，使實驗室內(nèi)的溫度均勻并保持穩(wěn)定。門與箱體之間采用雙層耐高溫之高張性密封條,測試孔(機器左側(cè))可外接測試電源線或信號線使用(孔徑或孔數(shù)可根據(jù)客戶指示)。設(shè)備的制冷系統(tǒng)安裝在底部，壓縮機采用法國泰康牌，以確保制冷效果及性，制冷劑采用環(huán)保型。機器底部安裝高品質(zhì)可固定式PU活動輪，可以很方便地將機器移到位置，后將腳輪固定。 四、控制系統(tǒng) 高低溫濕熱試驗設(shè)備一般采用日本“富士” 溫度控制儀表，智能型高精度數(shù)顯PID微電腦溫度控制儀表，薄膜式按鍵，觸控式設(shè)定、數(shù)位及直接顯示，感溫傳感器采用PT100鉑電阻測試器。溫度控制采用熱平衡調(diào)溫方式。時間任意設(shè)定的功能。設(shè)備的主要電器元件如斷路器、交流接觸器、小型繼電器均采用“施耐德”品牌，其他電器附件采用國產(chǎn)。 五、加熱制冷系統(tǒng) 加熱采用遠(yuǎn)紅外鎳鉻合金高速加溫電熱絲，高溫完全獨立系統(tǒng)，不影響低溫試驗。制冷壓縮機采用全封閉法國泰康，制冷方式為機械制冷，冷凝方式為強制風(fēng)冷，加溫、降溫系統(tǒng)完全獨立，干燥過濾器、冷媒流量視窗、修理閥、油分離器、電磁閥、貯液筒均采用原裝件。 超低溫或體積較大的低溫試驗箱采用德國“谷輪”風(fēng)冷和水冷壓縮機。 六、主要技術(shù)參數(shù) 型號 工作室尺寸(深×寬×高)mm 外形尺寸(深×寬×高)mm 功率 （KW） GDW－100B型 400×500×500 1100×950×1650 3.0 GDW－150B型 500×500×600 1200×950×1730 3.0 GDW－225B型 500×600×750 1200×1050×1850 3.5 GDW－500B型 700×800×900 1350×1280×2100 5.0 GDW－800B型 800×1000×1000 1450×1480×2200 7.0 GDW－010B型 1000×1000×1000 1650×1480×2200 9.0 隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展，電工、電子產(chǎn)品的應(yīng)用領(lǐng)域日益廣闊，所經(jīng)受的環(huán)境條件也愈來愈復(fù)雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件，正確地選擇產(chǎn)品的環(huán)境防護措施，才能產(chǎn)品在儲存運輸中免遭損壞，在使用過程中安全。因而，電工、電子產(chǎn)品進(jìn)行人工模擬環(huán)境試驗是其量所必不可少的重要環(huán)節(jié)。人工模擬環(huán)境試驗是實際環(huán)境影響的科學(xué)概括，具有典型化、規(guī)范化、使用方便、便于比較等特點。環(huán)境條件的多樣化和環(huán)境試驗的重要性也對環(huán)境試驗設(shè)備提出了更嚴(yán)格的要求。 高低溫試驗箱可以用來考核和確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度的環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性，設(shè)備采用強迫空氣循環(huán)來保持工作室內(nèi)溫度的均勻性，試驗時試驗樣品不會受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。 七、保護系統(tǒng) 整體設(shè)備超溫，風(fēng)