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內存條顆粒DDR2memorySDRAM測試架治具的詳細描述：
產品特點及性能參數(shù)：
◆產品通用程度高，只要換IC限位框，即可測試所有內存IC（寬度≤12MM）；
◆有球無球均可測試（只需更換上蓋的IC壓板）；
◆采用手動翻蓋式結構，操作方便；
◆上蓋的IC壓板采用擺動式結構，下壓平穩(wěn)，IC的壓力均勻，不移位；
◆探針的特殊頭形突起能刺破焊接球的氧化層，接觸，而不會損壞錫球；
◆高精度的定位槽，IC定位，測試效率高；
◆測試準確性高，大大減少誤判率；
◆采用雙頭針，探針可更換，維修方便，成本低；
◆絕緣材料：Torlon、PEI、PEEK，限位框鋁合金材料制作；
◆測試頻率可達1066M Hz；
◆測試壽命長，有效測試10萬次以上；
◆內存條測試治具測試規(guī)格：DDR2X8 一次性可測試8顆內存顆粒；
◆可以定制單顆內存IC與服務器主控IC的測試治具
◆可以免費提供相關
